System und Verfahren zur Herstellung einer Probe für die Elektronenmikroskopbeobachtung und Verwendung des Probenherstellungssystems
EP3904858
Art B1
26. Juni 2024
Anmelder: Sanyu Electron Co., Ltd., Keio University 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3904858
- Aktenzeichen
- EP19903278
- Anmeldetag
- 26. Dezember 2019
- Veröffentlichung
- 26. Juni 2024
- Erteilung
- 26. Juni 2024
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N1/28G01N23/2202G01N23/2204// G01N1/36
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Sanyu Electron Co., Ltd.
Keio University - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Keio University
Die Keio University ist eine private Universität in Tokio, Japan, die in zahlreichen Fachrichtungen von Wirtschaft bis Ingenieurwissenschaften lehrt und forscht.
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