Verfahren zur Messung der Fallendichte in einem 2-Dimensionalen Halbleitermaterial

EP3913356 Art B1 22. Januar 2025

Anmelder: Imec VZW, Katholieke Universiteit Leuven KU Leuven Research & Development 🇧🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP3913356
Aktenzeichen: EP20175167
Anmeldetag: 18. Mai 2020
Veröffentlichung: 22. Januar 2025
Erteilung: 22. Januar 2025
Rechtsraum: EP
IPC: G01N21/64

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: Imec VZW
Katholieke Universiteit Leuven KU Leuven Research & Development
Land: 🇧🇪 Belgien

🇧🇪 KU Leuven Research & Development

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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