Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Lateralen Tiefe einer Mikrostruktur
EP3940337
Art B1
10. Januar 2024
Anmelder: Imec VZW 🇧🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3940337
- Aktenzeichen
- EP21183291
- Anmeldetag
- 1. Juli 2021
- Veröffentlichung
- 10. Januar 2024
- Erteilung
- 10. Januar 2024
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01B11/22G01B15/00G03F7/20H01L29/06H01L29/775// G03F7/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Imec VZW
- Land
- 🇧🇪 Belgien
🇧🇪
imec
Imec ist ein belgisches Forschungszentrum mit Sitz in Leuven, das auf Nanoelektronik, Halbleitertechnologie und digitale Technologien spezialisiert ist.
2.629 Patente in unserer Datenbank