Infrarotmessvorrichtung und Verfahren zum Messen von Infrarotsignalen mit der Infrarotmessvorrichtung

EP4006510 Art B1 10. Januar 2024

Anmelder: Melexis Technologies NV 🇧🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP4006510
Aktenzeichen: EP22151200
Anmeldetag: 18. Juli 2016
Veröffentlichung: 10. Januar 2024
Erteilung: 10. Januar 2024
Rechtsraum: EP
IPC: G01J5/06G01J5/12

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Melexis Technologies NV
Land: 🇧🇪 Belgien

🇨🇭 Melexis Technologies

Halbleiterunternehmen mit belgischen Wurzeln und Schweizer Sitz, entwickelt integrierte Sensor- und Treiberschaltkreise für Automobil- und Industrieelektronik.

419 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von