Cantilever, Rastersondenmikroskop und Messverfahren mit Rastersondenmikroskop
EP4006557
Art A1
1. Juni 2022
Anmelder: Hitachi High-Tech Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4006557
- Aktenzeichen
- EP20847670
- Anmeldetag
- 30. April 2020
- Veröffentlichung
- 1. Juni 2022
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01Q60/22G01Q70/10G01Q70/14
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Hitachi High-Tech Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Hitachi High-Tech Corporation
Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.
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