Metrologische Vorrichtung und Metrologische Verfahren basierend auf der Erzeugung Hoher Oberschwingungen aus einer Diffraktiven Struktur
EP4006640
Art A1
1. Juni 2022
Anmelder: Stichting Nederlandse Wetenschappelijk Onderzoek Instituten, ASML Netherlands B.V., Stichting VU, Universiteit van Amsterdam 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4006640
- Aktenzeichen
- EP20209950
- Anmeldetag
- 26. November 2020
- Veröffentlichung
- 1. Juni 2022
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G03F7/20G01N21/47G01N21/956G01N23/22
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Stichting Nederlandse Wetenschappelijk Onderzoek Instituten
ASML Netherlands B.V.
Stichting VU
Universiteit van Amsterdam - Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
ASML
Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.
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Fachgebiete
Vertreten von
-
ASML Netherlands B.V
ASML Netherlands B.V · Veldhoven