Magnetfeldfreie Probenebene für ein Ladungsteilchenmikroskop
EP4020519
Art A1
29. Juni 2022
Anmelder: FEI Company 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4020519
- Aktenzeichen
- EP21214236
- Anmeldetag
- 14. Dezember 2021
- Veröffentlichung
- 29. Juni 2022
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01J37/141
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- FEI Company
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
FEI Company
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
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Fachgebiete
Weitere Vertreter
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Boult Wade Tennant LLP
Boult Wade Tennant LLP · London