System mit Geladenem Teilchenstrahl

EP4027369 Art A9 12. April 2023

Anmelder: JEOL Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4027369
Aktenzeichen
EP21217377
Anmeldetag
23. Dezember 2021
Veröffentlichung
12. April 2023
Rechtsraum
EP
IPC
H01J37/26H01J37/244H01J37/22
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
JEOL Ltd.
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 JEOL

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das wissenschaftliche und industrielle Präzisionsgeräte entwickelt, darunter Elektronenmikroskope, Analysegeräte und Halbleiterfertigungsanlagen.

288 Patente in unserer Datenbank

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen