System und Verfahren zur Schnellen Inspektion einer Leiterplatte unter Verwendung mehrerer Modalitäten

EP4031885 Art A1 27. Juli 2022

Anmelder: Battelle Memorial Institute 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP4031885
Aktenzeichen: EP20781422
Anmeldetag: 16. September 2020
Veröffentlichung: 27. Juli 2022
Rechtsraum: EP
IPC: G01R31/309G01R31/265G01N21/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Battelle Memorial Institute
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Battelle Memorial Institute

Gemeinnützige US-amerikanische Forschungsorganisation mit Sitz in Columbus, Ohio, die angewandte Forschung und Entwicklung in Technik, Energie und Materialwissenschaften betreibt.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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