Verfahren zur Erzeugung eines Schätzungsmodells und Elektronenmikroskop

EP4044210 Art A1 17. August 2022

Anmelder: Jeol Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP4044210
Aktenzeichen: EP22155957
Anmeldetag: 9. Februar 2022
Veröffentlichung: 17. August 2022
Rechtsraum: EP
IPC: H01J37/153H01J37/22

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Jeol Ltd.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 JEOL

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das wissenschaftliche und industrielle Präzisionsgeräte entwickelt, darunter Elektronenmikroskope, Analysegeräte und Halbleiterfertigungsanlagen.

520 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

Vertreten von