Radardetektion unter Verwendung der Einfallswinkelschätzung basierend auf Skalierungsparametern mit Beschnittenem Spärlichem Lernen des Unterstützungsvektors
EP4050364
Art B1
11. September 2024
Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4050364
- Aktenzeichen
- EP22157177
- Anmeldetag
- 17. Februar 2022
- Veröffentlichung
- 11. September 2024
- Erteilung
- 11. September 2024
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01S7/02G01S7/35G01S13/34G01S13/42G01S13/58G01S13/931G01S3/14G01S3/04G01S7/03G01S13/44// G01S13/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- NXP B.V.
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
NXP Semiconductors
Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.
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