Vorrichtung und Verfahren zur Probenbearbeitung

EP4050638 Art A9 12. April 2023

Anmelder: Jeol Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP4050638
Aktenzeichen: EP22157924
Anmeldetag: 22. Februar 2022
Veröffentlichung: 12. April 2023
Rechtsraum: EP
IPC: H01J37/20H01J37/31H01J37/305G01N1/00

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Jeol Ltd.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 JEOL

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das wissenschaftliche und industrielle Präzisionsgeräte entwickelt, darunter Elektronenmikroskope, Analysegeräte und Halbleiterfertigungsanlagen.

520 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von