Verfahren zur Schnellen Entwicklung eines Parametersatzes zur Generativen Fertigung

EP4054780 Art B1 13. August 2025

Anmelder: Carl Zeiss Industrial Metrology, LLC, UT-Battelle, LLC 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4054780
Aktenzeichen
EP20889427
Anmeldetag
18. November 2020
Veröffentlichung
13. August 2025
Erteilung
13. August 2025
Rechtsraum
EP
IPC
B22F3/105B22F3/16B29C64/393B33Y10/00B33Y50/02B22F10/85B22F10/39B22F10/38B22F10/28
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen
Carl Zeiss Industrial Metrology, LLC
UT-Battelle, LLC
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 UT-Battelle

UT-Battelle ist der Betreiber des Oak Ridge National Laboratory in den USA, ein Gemeinschaftsunternehmen der University of Tennessee und des Battelle Memorial Institute. Das Patentportfolio deckt breit Halbleiterbauelemente, Mess- und Prüftechnik sowie Metallurgie und Werkstoffe ab. Anmeldungen sind seit 2000 dokumentiert.

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