Beobachtungsverfahren mittels Rastertransmissionselektronenmikroskop, Rastertransmissionselektronenmikroskopsystem und Programm

EP4057320 Art B1 24. Juli 2024

Anmelder: The University of Tokyo 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP4057320
Aktenzeichen: EP20885208
Anmeldetag: 11. Juni 2020
Veröffentlichung: 24. Juli 2024
Erteilung: 24. Juli 2024
Rechtsraum: EP
IPC: H01J37/22H01J37/244H01J37/28

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: The University of Tokyo
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 University of Tokyo

Japanische Universität mit Sitz in Tokio, eine der führenden Forschungsuniversitäten Asiens. Die Universität ist in nahezu allen wissenschaftlichen und technischen Disziplinen aktiv, darunter Materialwissenschaften, Elektrotechnik, Biotechnologie und Medizin.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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