Netzbasierte Wafer-Inspektion

EP4081927 Art A1 2. November 2022

Anmelder: Synopsys, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP4081927
Aktenzeichen: EP20848896
Anmeldetag: 17. Dezember 2020
Veröffentlichung: 2. November 2022
Rechtsraum: EP
IPC: G06F30/398G01R31/317G06T7/00G01N21/956

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Synopsys, Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Synopsys

Synopsys ist ein US-amerikanischer Anbieter von Software für den Chip- und Systementwurf (EDA) mit Sitz in Kalifornien. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Software und Datenverarbeitung sowie Halbleiter und elektrische Bauelemente, ergänzt durch Optik und Elektronik für Entwurfswerkzeuge. Anmeldungen reichen von 2000 bis in die Gegenwart.

483 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

Vertreten von