Mikroskop mit Schräger Ebene und Verfahren zum Korrigieren einer Aberration in einem Mikroskop mit Schräger Ebene

EP4088153 Art B1 16. April 2025

Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP4088153
Aktenzeichen: EP20702405
Anmeldetag: 9. Januar 2020
Veröffentlichung: 16. April 2025
Erteilung: 16. April 2025
Rechtsraum: EP
IPC: G02B21/16G02B21/36G02B27/00G02B21/00G02B21/02

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Leica Microsystems CMS GmbH
Land: 🇩🇪 Deutschland

🇩🇪 Leica Microsystems

Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.

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Fachgebiete

Optik & Fototechnik

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