Rasterelektronenmikroskop und Bilderzeugungsverfahren mit dem Rasterelektronenmikroskop

EP4109489 Art A3 8. März 2023

Anmelder: Jeol Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP4109489
Aktenzeichen: EP22175872
Anmeldetag: 27. Mai 2022
Veröffentlichung: 8. März 2023
Rechtsraum: EP
IPC: H01J37/244

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Jeol Ltd.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 JEOL

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das wissenschaftliche und industrielle Präzisionsgeräte entwickelt, darunter Elektronenmikroskope, Analysegeräte und Halbleiterfertigungsanlagen.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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