System und Verfahren zur Überwachung von Halbleiterprozessen
EP4114999
Art A1
11. Januar 2023
Anmelder: Inficon, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4114999
- Aktenzeichen
- EP21764230
- Anmeldetag
- 2. März 2021
- Veröffentlichung
- 11. Januar 2023
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- C23C16/455C23C16/46C23C16/52H01L21/67
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Inficon, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇩🇪
Inficon
Inficon ist ein Hersteller von Mess- und Analysegeräten für Vakuum- und Gasanwendungen mit Wurzeln in der Schweiz. Das Patentportfolio konzentriert sich stark auf Mess- und Prüftechnik, ergänzt durch Halbleiter- und Metallurgietechnik. Die Titel betreffen unter anderem Bildverarbeitung für die Prozessendpunkterkennung und Sprühvorrichtungen für Prüfgas.
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