Verfahren zur Bestimmung einer Korrektur für mindestens einen Steuerparameter in einem Halbleiterherstellungsverfahren
EP4120019
Art A1
18. Januar 2023
Anmelder: ASML Netherlands B.V. 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4120019
- Aktenzeichen
- EP21185145
- Anmeldetag
- 12. Juli 2021
- Veröffentlichung
- 18. Januar 2023
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G03F7/20G01N21/956G03F9/00H01L21/66
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ASML Netherlands B.V.
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
ASML
Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.
3.336 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
-
ASML Netherlands B.V
ASML Netherlands B.V · Veldhoven