Verfahren zur Bestimmung einer Korrektur für mindestens einen Steuerparameter in einem Halbleiterherstellungsverfahren

EP4120019 Art A1 18. Januar 2023

Anmelder: ASML Netherlands B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4120019
Aktenzeichen
EP21185145
Anmeldetag
12. Juli 2021
Veröffentlichung
18. Januar 2023
Rechtsraum
EP
IPC
G03F7/20G01N21/956G03F9/00H01L21/66
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
ASML Netherlands B.V.
Land
🇳🇱 Niederlande
🇳🇱 ASML

Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.

3.336 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen