Sted-Mikroskopie-Verfahren mit Verbessertem Signal-Rausch-Verhältnis bei Bildgebungsbedingungen mit Niedriger Photonenzahl

EP4124850 Art A1 1. Februar 2023

Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP4124850
Aktenzeichen: EP22189501
Anmeldetag: 8. Oktober 2020
Veröffentlichung: 1. Februar 2023
Rechtsraum: EP
IPC: G01N21/64

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Leica Microsystems CMS GmbH
Land: 🇩🇪 Deutschland

🇩🇪 Leica Microsystems

Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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