Schiefeebenemikroskop mit Verbesserter Sammeleffizienz

EP4133322 Art A1 15. Februar 2023

Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP4133322
Aktenzeichen: EP21718825
Anmeldetag: 8. April 2021
Veröffentlichung: 15. Februar 2023
Rechtsraum: EP
IPC: G02B21/00G02B21/36

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Leica Microsystems CMS GmbH
Land: 🇩🇪 Deutschland

🇩🇪 Leica Microsystems

Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.

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Fachgebiete

Optik & Fototechnik

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