Verfahren zur Herstellung einer Dreidimensionalen Halbleitervorrichtung mit Vergrabener Stoppschicht in einem Substrat

EP4139954 Art B1 16. Oktober 2024

Anmelder: Yangtze Memory Technologies Co., Ltd. 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4139954
Aktenzeichen
EP21933642
Anmeldetag
30. März 2021
Veröffentlichung
16. Oktober 2024
Erteilung
16. Oktober 2024
Rechtsraum
EP
IPC
H01L21/60H01L21/265H01L21/762H01L21/20H10B43/40
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Yangtze Memory Technologies Co., Ltd.
Land
🇨🇳 China
🇨🇳 Yangtze Memory Technologies

Chinesisches Unternehmen aus Wuhan, das NAND-Flash-Speicherchips entwickelt und produziert.

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