Vorrichtung zur Beobachtung von Gas unter Beobachtung, Verfahren zur Beobachtung von Ionen unter Beobachtung und Probenhalter

EP4141906 Art A1 1. März 2023

Anmelder: National Institute for Materials Science 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4141906
Aktenzeichen
EP21821017
Anmeldetag
28. April 2021
Veröffentlichung
1. März 2023
Rechtsraum
EP
IPC
H01J37/20G01N23/2202G01N23/2204G01N23/2251G01N1/28
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
National Institute for Materials Science
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 National Institute for Materials Science

Japanisches staatliches Forschungsinstitut mit Sitz in Tsukuba, das auf Materialwissenschaft und Werkstoffforschung spezialisiert ist.

828 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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