Systeme und Verfahren zur Erkennung von Defekten in einer Strukturierungsvorrichtung
EP4148499
Art A1
15. März 2023
Anmelder: ASML Netherlands B.V. 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4148499
- Aktenzeichen
- EP21195866
- Anmeldetag
- 9. September 2021
- Veröffentlichung
- 15. März 2023
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G03F1/84G01N21/956G03F7/20G06T7/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ASML Netherlands B.V.
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
ASML
Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.
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Vertreten von
-
ASML Netherlands B.V
ASML Netherlands B.V · Veldhoven