Verfahren und Vorrichtung zum Hochaufgelösten Optischen Abtasten einer Probe
EP4151988
Art A1
22. März 2023
Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4151988
- Aktenzeichen
- EP22199580
- Anmeldetag
- 9. August 2007
- Veröffentlichung
- 22. März 2023
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N21/64G01N21/63G02B21/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Leica Microsystems CMS GmbH
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Leica Microsystems
Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.
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