Verfahren zur Kompatibilitätsregelung bei Bild- und Datenanalysemodellen

EP4162404 Art A1 12. April 2023

Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4162404
Aktenzeichen
EP21735060
Anmeldetag
31. Mai 2021
Veröffentlichung
12. April 2023
Rechtsraum
EP
IPC
G06N3/04G06N3/08
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Leica Microsystems CMS GmbH
Land
🇩🇪 Deutschland
🇩🇪 Leica Microsystems

Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.

770 Patente in unserer Datenbank

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen