Strahlungsdetektionsvorrichtung und Probenanalysevorrichtung
EP4166991
Art B1
30. Juli 2025
Anmelder: JEOL Ltd., Jeol Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4166991
- Aktenzeichen
- EP22200662
- Anmeldetag
- 10. Oktober 2022
- Veröffentlichung
- 30. Juli 2025
- Erteilung
- 30. Juli 2025
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01T1/36G01T1/17
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- JEOL Ltd.
Jeol Ltd. - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
JEOL
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das wissenschaftliche und industrielle Präzisionsgeräte entwickelt, darunter Elektronenmikroskope, Analysegeräte und Halbleiterfertigungsanlagen.
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