Verfahren und Vorrichtungen mit Reduzierten Defekten in Verbindungshöckern zwischen einem Halbleiterchip und einem Substrat (einem Gehäusesubstrat oder einem Weiteren Chip)
EP4167278
Art A3
28. Juni 2023
Anmelder: INTEL Corporation 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4167278
- Aktenzeichen
- EP22197135
- Anmeldetag
- 22. September 2022
- Veröffentlichung
- 28. Juni 2023
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01L23/485H01L23/538H01L21/60// H01L21/603
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- INTEL Corporation
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Intel
US-amerikanischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Kalifornien. Entwickelt und produziert Prozessoren, Chipsätze sowie weitere Halbleiterkomponenten für Computer, Server und eingebettete Systeme.
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