Selbsttest eines Mems-Beschleunigungsmessers unter Verwendung einer Variablen Erregerspannung und Fester Zeitsteuerung

EP4170356 Art B1 17. September 2025

Anmelder: STMicroelectronics S.r.l., STMicroelectronics Inc. 🇮🇹

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4170356
Aktenzeichen
EP22200494
Anmeldetag
10. Oktober 2022
Veröffentlichung
17. September 2025
Erteilung
17. September 2025
Rechtsraum
EP
IPC
G01P21/00G01P15/125G01P15/18G01P15/08
Offizieller Volltext

Abstract

A microelectromechanical system (MEMS) accelerometer sensor (12x, 12y, 12z) has a mobile mass and a sensing capacitor. To self-test the sensor, a test signal having a variably controlled excitation voltage and a fixed pulse width is applied to the sensing capacitor. The leading and trailing edges of the test signal are aligned to coincide with reset phases of a sensing circuit (32-36) coupled to the sensing capacitor. The variably controlled excitation voltage of the test signal is configured to cause an electrostatic force which produces a desired physical displacement of the mobile mass. During a read phase of the sensing circuit, a variation in capacitance of sensing capacitor due to the actual physical displacement of the mobile mass is sensed for comparison to the desired physical displacement.

Anmelder

Firmen
STMicroelectronics S.r.l.
STMicroelectronics Inc.
Land
🇮🇹 Italien
🇮🇹 STMicroelectronics Italy

Italienische Konzerngesellschaft des schweizerisch-französischen Halbleiterherstellers STMicroelectronics. Entwickelt und fertigt Halbleiterkomponenten für Automobil-, Industrie- und Konsumelektronik.

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