Verfahren und Vorrichtung für die Metrologie

EP4184426 Art A1 24. Mai 2023

Anmelder: ASML Netherlands B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP4184426
Aktenzeichen: EP21209476
Anmeldetag: 22. November 2021
Veröffentlichung: 24. Mai 2023
Rechtsraum: EP
IPC: G06T5/00G06T5/10

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: ASML Netherlands B.V.
Land: 🇳🇱 Niederlande

🇳🇱 ASML

Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.

3.336 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Software & Datenverarbeitung

Vertreten von