Vorrichtung und Verfahren zum Ionendünnen einer Probe

EP4199029 Art A1 21. Juni 2023

Anmelder: Jeol Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP4199029
Aktenzeichen: EP22214627
Anmeldetag: 19. Dezember 2022
Veröffentlichung: 21. Juni 2023
Rechtsraum: EP
IPC: H01J37/21H01J37/305

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Jeol Ltd.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 JEOL

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das wissenschaftliche und industrielle Präzisionsgeräte entwickelt, darunter Elektronenmikroskope, Analysegeräte und Halbleiterfertigungsanlagen.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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