Automatische Analysevorrichtung und Automatisches Analyseverfahren

EP4220179 Art B1 21. August 2024

Anmelder: Hitachi High-Tech Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP4220179
Aktenzeichen: EP22217377
Anmeldetag: 12. Februar 2016
Veröffentlichung: 21. August 2024
Erteilung: 21. August 2024
Rechtsraum: EP
IPC: G01N35/00G01N33/86G01N33/96G01N35/02G01N35/04G01N21/27G01N21/82G01N33/49G01N35/10G01N1/38

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Hitachi High-Tech Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

4.287 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von