Verfahren zur Abscheidung von Piezoelektrischem Material aus Hochdotiertem Aluminiumnitrid

EP4224543 Art B1 9. April 2025

Anmelder: Lam Research Corporation 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4224543
Aktenzeichen
EP22155617
Anmeldetag
8. Februar 2022
Veröffentlichung
9. April 2025
Erteilung
9. April 2025
Rechtsraum
EP
IPC
H10N30/076H10N30/853C23C14/06C23C14/02C23C14/28C23C14/34
Offizieller Volltext

Abstract

A method for manufacturing a doped wurtzite aluminium nitride piezoelectric thin film is disclosed which comprises: - providing a deposition device, such as a pulsed laser deposition device or a physical vapor deposition device, with a target (1) and a substrate (2), wherein the target material is a doped aluminum nitride composite and wherein the doping element is a rare earth element, preferably scandium; - depositing a first layer (5) of the target material on the substrate by operating the deposition device, wherein the kinetic energy of the plasma particles being deposited is above a first threshold value; and - depositing a second layer (6) of the target material on top of the first layer by operating the deposition device, wherein the kinetic energy of the plasma particles being deposited is below a second threshold value, wherein the first threshold value is larger than the second threshold value.

Anmelder

Firma
Lam Research Corporation
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Lam Research

US-amerikanischer Hersteller von Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie mit Sitz in Fremont, Kalifornien, spezialisiert auf Ätz- und Beschichtungssysteme (Deposition) für die Chipproduktion.

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