Verfahren zur Abscheidung von Piezoelektrischem Material aus Hochdotiertem Aluminiumnitrid
Anmelder: Lam Research Corporation 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4224543
- Aktenzeichen
- EP22155617
- Anmeldetag
- 8. Februar 2022
- Veröffentlichung
- 9. April 2025
- Erteilung
- 9. April 2025
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H10N30/076H10N30/853C23C14/06C23C14/02C23C14/28C23C14/34
Abstract
A method for manufacturing a doped wurtzite aluminium nitride piezoelectric thin film is disclosed which comprises: - providing a deposition device, such as a pulsed laser deposition device or a physical vapor deposition device, with a target (1) and a substrate (2), wherein the target material is a doped aluminum nitride composite and wherein the doping element is a rare earth element, preferably scandium; - depositing a first layer (5) of the target material on the substrate by operating the deposition device, wherein the kinetic energy of the plasma particles being deposited is above a first threshold value; and - depositing a second layer (6) of the target material on top of the first layer by operating the deposition device, wherein the kinetic energy of the plasma particles being deposited is below a second threshold value, wherein the first threshold value is larger than the second threshold value.
Anmelder
- Firma
- Lam Research Corporation
- Land
- 🇺🇸 USA
US-amerikanischer Hersteller von Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie mit Sitz in Fremont, Kalifornien, spezialisiert auf Ätz- und Beschichtungssysteme (Deposition) für die Chipproduktion.
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Vertreten von
-
Mewburn Ellis LLP
Mewburn Ellis LLP · München