Verfahren zur Bearbeitung eines Wafers aus 4H-Sic-Material zur Bildung einer 3C-Sic-Schicht in Direktem Kontakt mit dem 4H-Sic-Material

EP4246553 Art B1 3. Dezember 2025

Anmelder: STMicroelectronics S.r.l. 🇮🇹

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4246553
Aktenzeichen
EP23160409
Anmeldetag
7. März 2023
Veröffentlichung
3. Dezember 2025
Erteilung
3. Dezember 2025
Rechtsraum
EP
IPC
H01L21/20
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
STMicroelectronics S.r.l.
Land
🇮🇹 Italien
🇮🇹 STMicroelectronics Italy

Italienische Konzerngesellschaft des schweizerisch-französischen Halbleiterherstellers STMicroelectronics. Entwickelt und fertigt Halbleiterkomponenten für Automobil-, Industrie- und Konsumelektronik.

2.334 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen