Massnahmen gegen die Verschlechterung der Gate-Eigenschaften von Leistungshalbleitern
EP4250567
Art A1
27. September 2023
Anmelder: Mitsubishi Electric R&D Centre Europe B.V., Mitsubishi Electric Corporation 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4250567
- Aktenzeichen
- EP22305351
- Anmeldetag
- 23. März 2022
- Veröffentlichung
- 27. September 2023
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H03K17/14H03K17/687H03K17/16H01L29/16
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Mitsubishi Electric R&D Centre Europe B.V.
Mitsubishi Electric Corporation - Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
Mitsubishi Electric R&D Centre Europe
Niederländische Forschungs- und Entwicklungseinrichtung des japanischen Mitsubishi-Electric-Konzerns. Betreibt technologische Forschung für Elektronik-, Kommunikations- und Automatisierungslösungen für den europäischen Markt.
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🇯🇵
Mitsubishi Electric
Japanisches Unternehmen, das Elektro- und Elektroniktechnik entwickelt und herstellt, darunter Automatisierung, Energie-, Klima- und Fahrzeugtechnik.
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Vertreten von
-
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Plasseraud IP · Paris