Verfahren zur Modellierung einer Nn-Einsatzmetrik auf Blockebene

EP4258180 Art A1 11. Oktober 2023

Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4258180
Aktenzeichen
EP23162988
Anmeldetag
20. März 2023
Veröffentlichung
11. Oktober 2023
Rechtsraum
EP
IPC
G06N3/0985G06N5/01G06N7/01G06N20/10G06N20/20G06N3/006G06N3/126
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
NXP B.V.
Land
🇳🇱 Niederlande
🇳🇱 NXP Semiconductors

Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.

7.818 Patente in unserer Datenbank

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen