Vorspannungsgeneratorprüfung mit Gruppierten Vorspannungsströmen

EP4261549 Art B1 25. September 2024

Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4261549
Aktenzeichen
EP22305546
Anmeldetag
14. April 2022
Veröffentlichung
25. September 2024
Erteilung
25. September 2024
Rechtsraum
EP
IPC
G01R19/165G01R19/00G01R31/28
Offizieller Volltext

Abstract

An electronic device includes a bias generator to generate a plurality of bias currents and a testing module to test the bias generator by successively testing each subset of bias currents of a plurality of subsets of bias currents grouped from the plurality of bias currents as a corresponding single test current. The testing module can include a variable resistor, wherein the testing module is to test the bias generator by, for each subset of bias currents, configuring the variable resistor to have a corresponding resistance based on the number of bias currents represented in the subset, conducting a corresponding test current through the variable resistor configured to the corresponding resistance, the test current representing a combination of all bias currents of the corresponding subset, and determining a test status for the subset of bias currents based on a voltage across the variable resistor resulting from the corresponding test current.

Anmelder

Firma
NXP B.V.
Land
🇳🇱 Niederlande
🇳🇱 NXP Semiconductors

Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.

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