Interferenzkompensation in Mikroskopiesystemen

EP4261772 Art A1 18. Oktober 2023

Anmelder: FEI COMPANY 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP4261772
Aktenzeichen: EP23167788
Anmeldetag: 13. April 2023
Veröffentlichung: 18. Oktober 2023
Rechtsraum: EP
IPC: G06T5/00G06T5/50

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: FEI COMPANY
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 FEI Company

US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.

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Fachgebiete

Software & Datenverarbeitung

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