Topologiebasierte Bildwiedergabe in Inspektionssystemen mit Geladenen Teilchenstrahlen

EP4264373 Art B1 29. Oktober 2025

Anmelder: ASML Netherlands B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4264373
Aktenzeichen
EP21819114
Anmeldetag
24. November 2021
Veröffentlichung
29. Oktober 2025
Erteilung
29. Oktober 2025
Rechtsraum
EP
IPC
G03F7/00G06T7/00G06T7/33
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
ASML Netherlands B.V.
Land
🇳🇱 Niederlande
🇳🇱 ASML

Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.

3.336 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen