Messsystem zur Messung von Schichten und Zugehöriges Additives Fertigungsverfahren

EP4275900 Art B1 5. November 2025

Anmelder: General Electric Company, Concept Laser GmbH 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4275900
Aktenzeichen
EP23197717
Anmeldetag
10. Dezember 2020
Veröffentlichung
5. November 2025
Erteilung
5. November 2025
Rechtsraum
EP
IPC
G01B21/16B22F10/20B29C64/393// B22F10/28B22F10/31B22F12/40B22F12/90B29C64/153B33Y10/00B33Y50/02
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen
General Electric Company
Concept Laser GmbH
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 General Electric

US-amerikanischer Technologiekonzern mit Sitz in Massachusetts. Historisch aktiv in Energieerzeugung, Luftfahrttriebwerken, Medizintechnik und Industrietechnik über verschiedene Geschäftsbereiche.

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