Verfahren und Vorrichtung zur Erkennung von Strahlfehlern
EP4280659
Art A1
22. November 2023
Anmelder: 1FINITY Inc., FUJITSU LIMITED 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4280659
- Aktenzeichen
- EP21918324
- Anmeldetag
- 13. Januar 2021
- Veröffentlichung
- 22. November 2023
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H04B7/06H04B7/024H04W16/28
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- 1FINITY Inc.
FUJITSU LIMITED - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Fujitsu
Japanisches Unternehmen für Informationstechnik, das Computer, Server, Netzwerktechnik sowie IT-Dienstleistungen und Softwarelösungen entwickelt und anbietet.
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