System und Verfahren zur Interferometrie mit Lateralem Scheren in einem Inspektionswerkzeug

EP4285113 Art A1 6. Dezember 2023

Anmelder: KLA Corporation 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4285113
Aktenzeichen
EP22792458
Anmeldetag
21. April 2022
Veröffentlichung
6. Dezember 2023
Rechtsraum
EP
IPC
G01N21/88G01N21/95G01N21/956G01N21/33G01B9/02G01B11/24G01J9/02G03F1/84G01J9/00
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
KLA Corporation
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 KLA Corporation

US-amerikanisches Unternehmen (frühere Firmierung KLA-Tencor), das Prozesskontroll- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung entwickelt.

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