Fokusmessung und -Steuerung in der Metrologie und Zugehörige Keilanordnung
EP4300193
Art A1
3. Januar 2024
Anmelder: ASML Netherlands B.V. 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4300193
- Aktenzeichen
- EP22181325
- Anmeldetag
- 27. Juni 2022
- Veröffentlichung
- 3. Januar 2024
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G03F9/00G03F7/20G01N21/47G01N21/956G02B7/34
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ASML Netherlands B.V.
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
ASML
Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.
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Fachgebiete
Vertreten von
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ASML Netherlands B.V
ASML Netherlands B.V · Veldhoven