Optische Inspektionsvorrichtung und Optisches Inspektionsverfahren

EP4317968 Art A1 7. Februar 2024

Anmelder: Shimadzu Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP4317968
Aktenzeichen: EP21933251
Anmeldetag: 8. Dezember 2021
Veröffentlichung: 7. Februar 2024
Rechtsraum: EP
IPC: G01N33/44G01N21/3563G01N1/28G01N15/14G01N15/02G01N15/0227G01N15/1433// G01N1/34G01N15/00

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Shimadzu Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Shimadzu

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Shimadzu entwickelt Analyse- und Messgeräte, medizinische Bildgebungssysteme sowie Komponenten für Luft- und Raumfahrt, Industrie und Wissenschaft.

2.214 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von