Probenverarbeitungshalter und Probenverarbeitungsverfahren

EP4318545 Art A3 20. März 2024

Anmelder: Jeol Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP4318545
Aktenzeichen: EP23182024
Anmeldetag: 28. Juni 2023
Veröffentlichung: 20. März 2024
Rechtsraum: EP
IPC: H01J37/20H01J37/305H01J37/18

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Jeol Ltd.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 JEOL

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das wissenschaftliche und industrielle Präzisionsgeräte entwickelt, darunter Elektronenmikroskope, Analysegeräte und Halbleiterfertigungsanlagen.

520 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

Vertreten von