Interferometrisches Messverfahren und Interferometrisches Messsystem

EP4336138 Art A1 13. März 2024

Anmelder: Carl Zeiss SMT GmbH 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4336138
Aktenzeichen
EP23192364
Anmeldetag
21. August 2023
Veröffentlichung
13. März 2024
Rechtsraum
EP
IPC
G01B9/02G01B9/02056G01B9/02055G01B11/24G01M11/02
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Carl Zeiss SMT GmbH
Land
🇩🇪 Deutschland
🇩🇪 Carl Zeiss SMT

Deutsches Unternehmen der Carl Zeiss Gruppe mit Sitz in Oberkochen, das optische Systeme und Lithographieoptiken für die Halbleiterindustrie entwickelt.

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