Verfahren zur Ermittlung eines Betriebswertes eines Beleuchtungsparameters zur Untersuchung einer Fluoreszenten Probe, Verfahren zur Untersuchung einer Fluoreszenten Probe, Mikroskopsystem und Computerprogramm
EP4341740
Art B1
4. März 2026
Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4341740
- Aktenzeichen
- EP22730215
- Anmeldetag
- 23. Mai 2022
- Veröffentlichung
- 4. März 2026
- Erteilung
- 4. März 2026
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G02B21/00G02B21/06G02B21/16G02B21/36G01N21/64
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Leica Microsystems CMS GmbH
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Leica Microsystems
Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.
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