Verfahren und System zur Anomaliebasierten Defektinspektion
EP4367632
Art A1
15. Mai 2024
Anmelder: ASML Netherlands B.V. 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4367632
- Aktenzeichen
- EP22734528
- Anmeldetag
- 3. Juni 2022
- Veröffentlichung
- 15. Mai 2024
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G06T7/00H01L21/66
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ASML Netherlands B.V.
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
ASML
Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.
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Vertreten von
-
ASML Netherlands B.V
ASML Netherlands B.V · Veldhoven