Verfahren zur Optimierung eines Parameters, der in einem Halbleiterherstellungsverfahren mit einem Lithografieschritt Angewandt Wird
EP4372468
Art A1
22. Mai 2024
Anmelder: Imec VZW 🇧🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4372468
- Aktenzeichen
- EP22208685
- Anmeldetag
- 21. November 2022
- Veröffentlichung
- 22. Mai 2024
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G03F7/20
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Imec VZW
- Land
- 🇧🇪 Belgien
🇧🇪
imec
Imec ist ein belgisches Forschungszentrum mit Sitz in Leuven, das auf Nanoelektronik, Halbleitertechnologie und digitale Technologien spezialisiert ist.
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