Automatische Analysevorrichtung und Verfahren zur Neigungseinstellung dafür

EP4375673 Art A1 29. Mai 2024

Anmelder: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP4375673
Aktenzeichen: EP22845698
Anmeldetag: 1. Juni 2022
Veröffentlichung: 29. Mai 2024
Rechtsraum: EP
IPC: G01N35/00G01N35/04G01N35/10

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

3.840 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von